除了閃爍室測氡法還有雙濾膜測氡法、氣球測氡法、駐很體法我就不一一列出來(lái)。下面看看幾種氡（Tn）濃度測量方法

1.     α徑跡蝕刻法測量Tn濃度通常采用2只探測杯（取樣盒），測氡儀改變杯中空氣交換率，通過(guò)選擇滲透不同的濾膜或通氣窗面積，是氡（²²²Rn）和（²²⁰Rn）能很容易的進(jìn)入空氣交換率較高的一只。另外一只空氣交換率較低的則只允許氡進(jìn)入，半衰期較短的Tn被阻擋在外面，從而實(shí)現²²²Rn 與²²⁰Rn的分別測量。²²²Rn 或²²⁰Rn濃度的計算公式如下：

C_Rn=（ρ_Rn-ρ_b）/（K_RnT）

C_Tn=（ρ_Rn+Tn-ρ_Rn）/（k_TnT）

式中C_Rn和C_Tn——分別表示暴露期間被測場(chǎng)所空氣中的平均²²²Rn 或²²⁰Rn濃度，單位為Bq·m^-3；

ρ_Rn+Tn、ρ_Rn和ρ_b——分別表示²²²Rn +²²⁰Rn暴露片、²²²Rn 暴露片和未暴露片（本底）的徑跡密度，單位為徑跡數·cm^-2；

K_Rn和k_Tn——分別為探測器對²²²Rn 或²²⁰Rn的靈敏度系數，單位為徑跡數·cm^-2/（Bq·cm^-3·h）；

T——累積暴露時(shí)間，單位為h。

2.靜電收集Tn子體法測量Tn濃度

     靜電收集氡子體測量Tn濃度原理與測氡相同，采用4道α能譜分析器對收集在探測器上的新生氡（或Tn）子體進(jìn)行測量。

    根據氡Tn子體衰變鏈可知，Tn濃度測量有兩種模式，快速取樣測量和長(cháng)時(shí)間連續累積測量。

快速測量一般為取樣測量5分鐘，此時(shí)只有A道核B道技術(shù)，通過(guò)A道核B道計數可以分別得到氡濃度和Tn濃度。計算公式為：

C_Rn=K_Rn（N_A-N_b）

C_Tn=k_Tn（N_B-N_b）

式中，C_Rn和C_Tn——分別表示測量場(chǎng)所的²²²Rn和²²⁰Rn濃度，單位為Bq·cm^-3；

      K_Rn和k_Tn——分別為探測器對²²²Rn和²²⁰Rn的刻度系數，單位為Bq·cm^-3/計數；

      N_A、N_B、N_b——分別為A道計數、B道計數和本底計數。

長(cháng)時(shí)間連續累積測量的航領(lǐng)棉服比快速謝亮的靈敏度高1倍，采用的是A，C道計數計算氡濃度，但必須扣除Tn子體²¹²Bi的α粒子（6.05MeV）對A道計數的貢獻（即0.5N_D），有B,D道計數計算Tn濃度，公式為：

      C_Rn=K_Rn（N_A+N_c-0.5N_D-N_b）

C_Tn=k_Tn（N_B+N_D-N_b）

式中，C_Rn和C_Tn——分別表示被測場(chǎng)所的²²²Rn和²²⁰Rn濃度，單位為Bq·cm^-3；

K_Rn和k_Tn——分別為探測器對²²²Rn和²²⁰Rn的刻度系數，單位為Bq·cm^-3/計數；

N_A、N_B、N_C、N_D、N_b——分別為A，B，C，D道計數和本底計數。

3.雙濾膜法測量²²⁰Rn濃度

     雙濾膜法²²⁰Rn濃度測量原理與測氡相同，是采用、樣t（min）后，在T^------₁~T₂（min）和T₃~T₄（min）二段時(shí)間內測量收集在第2張濾膜上新生氡、Tn子體發(fā)射的α粒子來(lái)分別計算氡、Tn濃度，計算公式為：

式中，C_Rn，C_Tn——氡濃度和Tn濃度，單位為Bq·m^-3；

N₁，N₂——出口濾膜在T1~T2（min）和T₃~T₄（min）二段時(shí)間內的積分計數；

N_b——本底計數；

V——雙濾膜管的容積，單位為L；

ε——探測效率；

F₁——濾膜包括自吸收修正的過(guò)濾效率；

F——氡子體對Tn子體計數的貢獻；

Z_Rn，Z_Tn——與取樣時(shí)間t、測量時(shí)間（T^------₁~T₂、T₃~T₄）有關(guān)的參數，取值就見(jiàn)表1；

F_f——新生子體到達出口濾膜的份額，取值見(jiàn)表2；

注意：在使用此方法時(shí)，取樣流量應保證氣體經(jīng)過(guò)雙濾膜筒的飛行時(shí)間小于6秒。

Z_Rn，Z_Tn，F值表